Microscopia de Força Atômica – AFM
Com o avanço da tecnologia, além dos microscópios ópticos, outros ainda mais potentes foram desenvolvidos, como o Microscópio de Varredura por Sonda (SPM – Scanning Probe Microscope), que se divide em duas classes: o STM (Scanning Tunneling Microscope) e o AFM (Atomic Force Microscope) [1]. As imagens obtidas por microscopia de AFM/STM são ferramentas muito importantes para os estudos de nanociência e nanotecnologia. O LOOSA possui um AFM da empresa Nanosurf, modelo EasyScan 2 FlexAFM (imagem abaixo) que permite estudar a morfologia de uma variedade de superfícies, podendo ser: poliméricas, cristais líquidos, metais, semicondutores, entre outras. Além de investigar a característica morfológica da superfície de uma amostra, podem ser exploradas as propriedades chamadas tribológicas, como rugosidade, dureza, rigidez, elasticidade, atrito, entre outras.
[1] Binning, G., Quate, C.F.,Gerber, C. Atomic Force microscopy. Physical Review Letters, 1986, Vol. 56, 9, 930-933.
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Filme de cristal líquido: imagem morfológica (esquerda) e contraste de fase (direita) |
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Filme de P3HT:PCBM (60:40): imagem morfológica (esquerda) e contraste de fase (direita) |
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Imagens morfológicas obtidas por AFM da superfície da asa de uma borboleta amarela |
